Modeling and Characterization of RF and Microwave Power FETs: Characterization and Modeling of LDMOS and III-V Devices (The Cambridge RF and Microwave Engineering Series) (English Edition)
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Modeling and Characterization of RF and Microwave Power FETs: Characterization and Modeling of LDMOS and III-V Devices (The Cambridge RF and Microwave Engineering Series) (English Edition) : prix et avis

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Informations produit

Fabricant
Cambridge University Press
Identifiants
ASIN
B001EWF3Y6
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